检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(527)
报纸
(204)
会议论文
(12)
学位论文
(7)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(663)
地方文献
(35)
地方风物
(26)
宗教集要
(14)
红色文化
(5)
非遗保护
(4)
文化溯源
(3)
才乡教育
(1)
按年份分组
2014
(96)
2013
(30)
2010
(46)
2007
(42)
2006
(48)
2005
(63)
2004
(55)
2003
(33)
1991
(7)
1982
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(19)
电子与电脑
(17)
半导体技术
(16)
集成电路应用
(12)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
国外电子测量技术
(5)
今日电子
(5)
电子资讯时报
(4)
相关搜索词
失效分析
失效模式
供应商
图像叠加
测试
存储器件
器件
半导体材料
加工成本
半导体工业
半导体生产
半导体业
Sapphire
分支机构
同期
发展战略
Personal
Verity系统
科利登公司
增强型
存储器
systems公司
半导体
器件测试
半导体行业
Raytheon公司
团队
低功耗
复杂度
首页
>
根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
751
条
美国
利
登
公司试验激光陀螺惯性
系统
作者:
暂无
来源:
国际航空
年份:
1982
文献类型 :
期刊文章
描述:
美国
利
登
公司试验激光陀螺惯性
系统
第四届
科
利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登
系统
公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
IC测试供应巨头
科
利
登
落户申城
作者:
李冰心
来源:
上海经济报
年份:
2004
文献类型 :
报纸
描述:
集团。作为唯一能从
设计
到制 造各个阶段测试难题为客户提供最佳 解决方案的ATE供应商,
科
利
登
为半 导体
科
利
登
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从
设计
到生 产测试解决方案的领先供应 商──
科
利
登
系统
有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为
科
利
登
董事 会
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
作者:
暂无
来源:
电脑商报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
半导体器件
高速串行总线
可测性
设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性
设计
(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
Credence
科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
首页
上一页
5
6
7
8
9
10
11
12
13
下一页
尾页