检索结果相关分组
美国公司试验激光陀螺惯性系统
作者:暂无 来源:国际航空 年份:1982 文献类型 :期刊文章
描述:美国公司试验激光陀螺惯性系统
第四届年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
IC测试供应巨头落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:集团。作为唯一能从设计到制 造各个阶段测试难题为客户提供最佳 解决方案的ATE供应商,为半 导体
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2005 文献类型 :报纸
描述:[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为董事 会
威盛电子采用实验室解决方案
作者:暂无 来源:电脑商报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:威盛电子采用实验室解决方案
新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——投资人更新
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 高数据速率  测试解决方案  系统公司  半导体器件  高速串行总线  可测性设计  微处理器  环路测试 
描述:的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
Credence为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:乔治  来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体公司  成本效益  Credence  小型化  集成化 
描述:作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]