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半导体工业
Octet系统
图象质量
器件
测试
Sapphire
Micrel公司
Octet
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根据【检索词:全球有超过150套的科利登的3.2Gbps测试设备用于高速】搜索到相关结果
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条
第四届
科
利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球
知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登
系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE
测试
的各种主题,如IC
测试
科
利
登
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产
测试
解决方案的领先供应 商──
科
利
登
系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为
科
利
登
董事 会
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
作者:
暂无
来源:
电脑商报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体
设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试
解决方案
科
利
登
系统公司
半导体器件
高速
串行总线
可测性设计
微处理器
环路
测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低
高速
半导体器
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence
科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
Zetex半导体购买多台
科
利
登
ASL3000系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统公司
混合信号
测试
成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统
用于
其多种模拟和混合信号器件的
测试
。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低
测试
成本的同时增加产能。
Tripath技术公司购买
科
利
登
(Credence)的混合
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
设备
技术公司
混合信号
领先者
解决方案
生产
测试
半导体工业
系统公司
购买
设计
描述:
作为一个为
全球
半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先者,
科
利
登
系统公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000
测试
设备
。Tripath 技术
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计
用于
与生产
测试
设备
对接。该系统与
科
利
登
的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
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