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合并
半导体工业
全球范围
半导体行业
吞吐量
公司
半导体生产
发展
供应商
VLSI公司
器件
科利登公司
失效分析
Kalos
器件测试
Raytheon公司
SoC芯片
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根据【检索词:科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户】搜索到相关结果
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条
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
作者:
暂无
来源:
电脑商报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司
近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦
公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence
科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登
:增强型SZ Falcon测试系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试程序开发
测试要求
测试系统
描述:
科
利
登
:增强型SZ Falcon测试系统
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun
公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun
公司
将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
Zetex半导体购买多台
科
利
登
ASL3000系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了
科
利
登
市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
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