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提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
Zetex半导体选择的ASL3000测试其类型广泛的
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  混合信号  拟和  系统公司  类型  测试解决方案  集成电路器件  美国加州  半导体业  测试成本  分立器件  产品市场  测试方案  供应商  设计 
描述:说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
ATE巨头掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
全新的:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的:提供先进技术降低测试成本
(Cre dence):访系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
Raytheon公司选用的IMS Electra系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 逻辑集成电路  验证测试系统  多芯片模块  系统公司  性能可靠  系统测试  商业部  失效分析  测试工程  系统架构 
描述:系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  汽车工业  综合测试系统  气动踏板  开发应用  AMIS  安全气囊  并行测试  ASIC  精度测试 
描述:SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐