检索结果相关分组
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 波利登公司利用地下气体探测矿床
- 作者：暂无 来源：国外采矿技术快报 年份：1987 文献类型 ：期刊文章
- 描述：波利登公司利用地下气体探测矿床
- 布利登公司开创选矿,控制,通讯新技术
- 作者：Wyl. RJM 张光烈 来源：国外金属矿山 年份：1991 文献类型 ：期刊文章 关键词： 选矿 磨矿 药剂 控制 通讯
- 描述：布利登公司开创选矿,控制,通讯新技术
- 玻利登-诺津克除汞技术及应用
- 作者：许波 来源：有色冶炼 年份：2000 文献类型 ：期刊文章 关键词： 烟气除汞 玻利登 诺津克技术 硫化法 氯化法
- 描述：介绍了玻利登 -诺津克除汞工艺及该技术在西北铅锌冶炼厂的应用结果。
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 波利登(Boliden)法焙烧含砷黄铁矿
- 作者：暂无 来源：硫酸工业 年份：1970 文献类型 ：期刊文章 关键词： 含砷黄铁矿 BASF 矿渣 两段法 焙烧炉 磁铁矿 赫尔 赤铁矿 砷酸 二步焙烧
- 描述：使一硫化铁进一步氧化成三氧化二铁(赤铁矿)。而在通常的沸腾炉内,黄铁矿几乎全部氧化为赤铁矿,它能与存在的氧化砷反应形成稳定的不挥发的砷酸铁: