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Atmel利用利登的ASL 3000RF^TM无线测试系
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试吞吐量  解决方案  测试效率  测试系统  网络分析技术  模拟信号  系统特点  接收器  市场提供  处理器 
描述:F是利登具有高测试吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC测试系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟