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条
科
利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产测试
逻辑集成电路
描述:
科
利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
Micrel购买
科
利登ASL系统用于混合信号测试
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Micrel公司
科
利登系统公司
混合信号测试
ASL3000
ASL1000
描述:
Micrel购买
科
利登ASL系统用于混合信号测试
科
利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
中国市场
测试成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述:
科
利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
科
利登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
科
利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科
利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
科
利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
全球有超过150套的
科
利登的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。
科
利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台
科
利登Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用
科
利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
科
利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科
利登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科
利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。
科
利登在SEMICON China展会上
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