检索结果相关分组
- 科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析
- 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
- EmiSchope-II系统
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： EmiSchope II系统 科利登子公司 固态浸人透镜 IC设计
- 描述：EmiSchope-II系统
- 科利登跻身ATE塔尖行列
- 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体行业 科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场
- 描述：科利登跻身ATE塔尖行列
- 脆性岩石广义多轴应变能强度准则及试验验证
- 作者：黄书岭 冯夏庭 张传庆 来源：岩石力学与工程学报 年份：2008 文献类型 ：期刊文章 关键词： 岩石力学 脆性岩石 广义多轴应变能强度准则 张性微裂缝控制型破坏 摩擦滑移控制型破坏 复合控制型破坏 多轴试验数据
- 描述：,反映脆性岩石破坏类型1;在很高静水压力下该准则可转化为广义Mises准则,反映脆性岩石破坏类型2;而当静水压力较高时,该准则处于上述两种准则的过渡阶段,反映脆性岩石破坏类型3。最后,通过对不同种类
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登：立志成为全球最大的ATE公司
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体产业 测试 集成电路设计 中国市场 设备公司 中国公司 记者 发展 全球 上海
- 描述：China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
- 测试重点我国航母出海应是厂方测试
- 作者：暂无 来源：三秦都市报 年份：2014 文献类型 ：报纸
- 描述：测试重点我国航母出海应是厂方测试
- DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
- 作者：暂无 来源：无线电工程 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 DA测试公司 QuartetOne SoC芯片 测试能力
- 描述：DA测试公司应用科利登Quartet One来提高测试能力
- 个人征信系统应是一个“独立”系统
- 作者：暂无 来源：海口晚报 年份：2014 文献类型 ：报纸
- 描述：个人征信系统应是一个“独立”系统