检索结果相关分组
- 科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
- 描述：adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
- 科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本 科利登系统公司 芯片 市场需求 多功能
- 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
- 全球有超过150套的科利登的3．2Gbps测试设备用于高速
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：被全球10大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试，包括HyperTransport