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sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
博大关怀 深耕不息——访尼起重机设备(上海)有限公司总
作者:暂无 来源:现代制造 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 上海市场  有限公司  总经理  起重机  设备  深耕  物流行业  销售  品牌 
描述:何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉上海市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“尼”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
强强联手 蓄势冲击——访系统公司全球总裁兼首席执行
作者:邬小梅  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  人物访谈  电子行业  半导体市场  测试设备 
描述:dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
(Cre dence)加大本土化服务、降低测试成本,
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  测试设备  产品量  测试系统  有限公司  解决方案  总经理  成本  会展中心  中国市场 
描述:领先的提供从设计到生产全套测试解决方案的供
ELMOS选择FALCON系统测试汽车电子半导体器件
作者:暂无 来源:汽车文摘 年份:2007 文献类型 :期刊文章
描述:ELMOS选择FALCON系统测试汽车电子半导体器件
与蔚华合并台湾业务,服务客户测试需求
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  台湾地区  合并  服务  系统公司  业务  需求  客户  股份有限公司  技术整合 
描述:区用户的支持。[第一段]
的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  系统公司  模拟  测试应用  数字电视  模数转换    视频  XDSL 
描述:系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:推出注重芯片成本的高量产测试系统