检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(480)
报纸
(244)
会议论文
(14)
学位论文
(6)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(682)
地方文献
(25)
地方风物
(17)
宗教集要
(11)
红色文化
(5)
才乡教育
(2)
非遗保护
(2)
文化溯源
(1)
按年份分组
2014
(125)
2012
(50)
2010
(31)
2009
(30)
2007
(34)
2006
(46)
2005
(64)
2004
(53)
2003
(40)
1982
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(20)
中国集成电路
(20)
电子与电脑
(17)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子产品世界
(7)
国外电子测量技术
(5)
电子资讯时报
(4)
电子测试
(2)
汽车文摘
(1)
相关搜索词
器件
半导体
吞吐量
测试
存储器
Octet系统
增强型
半导体业
Sapphire
可配置
Octet测试系统
图象质量
Raytheon公司
存储器件
科利登公司
systems公司
器件测试
半导体工业
半导体行业
分支机构
团队
Vanguard测试系统
SoC器件
半导体材料
发展
多媒体
供应商
威盛电子股份有限公司
加工成本
首页
>
根据【检索词:ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子半导体器件】搜索到相关结果
745
条
威盛
电子
选用
科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛
电子
股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布威盛
电子
股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此
系统
能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
芯片
成本控制
封装
测试
系统
D—10
系统
图形调试
描述:
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
江苏长电购买多台
科
利
登
ASL1000
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
江苏长电技术有限公司
科
利
登
公司
ASL1000
混合信号
测试
描述:
江苏长电购买多台
科
利
登
ASL1000
测试
系统
Micrel购买
科
利
登
ASL
系统
用于混合信号
测试
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Micrel公司
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试
ASL3000
ASL1000
描述:
Micrel购买
科
利
登
ASL
系统
用于混合信号
测试
服务
测试
领域 满足客户需求:访
科
利
登
系统
公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科
利
登
公司
工业设计
描述:
科
利
登
系统
公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统
公司
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
公司简介
自动测试设备
美国加利福尼亚州
ISO9001认证
检测技术
测试
设施
注册商标
测试
验证
半导体
生产
测试
成本
描述:
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统
公司
科
利
登
获“最佳
测试
奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利
登
系统
有限公司的Sapphire D-10
系统
荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“最佳
测试
奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利
登
:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就
测试
帝国
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
DA
测试
公司
QuartetOne
SoC芯片
测试
能力
描述:
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
7
8
9
下一页
尾页