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喷施
器件
测试
中微量元素
半导体工业
半导体生产
科利登公司
失效分析
器件测试
Raytheon公司
半导体材料
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根据【检索词:美国利登公司试验激光陀螺惯性系统】搜索到相关结果
855
条
Zetex半导体购买多台科
利
登
ASL3000
系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000
系统
用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该
系统
与科
利
登
的EmiScope
系统
(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科
利
登
Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试
系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行测试
ASIC
精度测试
描述:
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
科
利
登
系统
荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
测试解决方案
测量
系统
半导体工业
美国
加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自
美国
加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科
利
登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
新型科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
新型科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
通过购买多台科
利
登
的ASL1000测试
系统
Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components
公司
世界
有限公司
测试成本
混合信号
测试解决方案
描述:
ECCI是业界领先的测试方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能测试的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM测试温度传感器,
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