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条
科利登推出注重芯片
成本
的高量产测试系统
作者：
暂无
来源：
电子设计应用
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登公司
芯片
成本
控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述：
科利登推出注重芯片
成本
的高量产测试系统
为不断降低测试
成本
而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者：
胡芃
来源：
中国集成电路
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登公司
总经理
测试
成本
中国
创新
描述：
为不断降低测试
成本
而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
科利登展示降低测试
成本
和加快产品量产时间的解决方案：SEM
作者：
暂无
来源：
集成电路应用
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登系统公司
中国市场
测试
成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述：
科利登展示降低测试
成本
和加快产品量产时间的解决方案：SEM
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