检索结果相关分组
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 汽车工业 综合测试系统 气动踏板 开发应用 AMIS 安全气囊 并行测试 ASIC 精度测试
- 描述：科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- 科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 通过购买多台科利登的ASL1000测试系统Best Ele
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL1000 供应商 购买 半导体行业 Components公司 世界 有限公司 测试成本 混合信号 测试解决方案
- 描述：ECCI是业界领先的测试方案供应商，可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能测试的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM测试温度传感器，