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测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
器件测试
Raytheon公司
公司
半导体市场
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图像叠加
低功耗
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根据【检索词:科利登系统公司】搜索到相关结果
724
条
Atmel采用
科
利
登
无线测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel
公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司
近日宣布,Atmel
公司
选用ASL3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统
定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
QuickLogic选用
科
利
登
Sapphire D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic
公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic
公司
购买了其Sapphire D—10测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试
系统
。[第一段]
科
利
登
新推出的Sapphire D-40
系统
能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
Ikanos通讯
公司
Octet测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard测试
系统
科
利
登
公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard测试
系统
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
IKanos
公司
科
利
登
系统
公司
Octet
系统
宽带数字信号处理器
并行测试
描述:
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
矽格定购
科
利
登
Sapphire测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子
公司
Sapphire测试
系统
科
利
登
系统
有限公司
SoC器件
定购
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:矽格微电子
公司
,已经购买了多台Sapphire测试
系统
。作为
科
利
登
近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线测试
系统
实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
ASL3000
测试效率
WLAN
测试解决方案
无线器件
测试成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台
科
利
登
Sapphire测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试与封装外包市场的增长。
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