检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(455)
报纸
(190)
会议论文
(14)
学位论文
(4)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(598)
地方文献
(23)
地方风物
(21)
宗教集要
(11)
红色文化
(5)
非遗保护
(2)
才乡教育
(2)
文化溯源
(2)
按年份分组
2014
(81)
2012
(42)
2008
(43)
2007
(32)
2006
(46)
2005
(59)
2004
(53)
2003
(36)
2001
(9)
1982
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(20)
中国集成电路
(19)
电子与电脑
(17)
半导体技术
(17)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子元器件应用
(7)
国外电子测量技术
(5)
电子资讯时报
(4)
无线电工程
(1)
相关搜索词
测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
Raytheon公司
Sapphire
SoC器件
Octet系统
多媒体
存储器件
SoC芯片
半导体工业
存储器
多功能
增强型
器件测试
半导体行业
分支机构
团队
Octet测试系统
Vanguard测试系统
半导体材料
XDSL
供应商
发展
图形调试
ASL1000
首页
>
根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
59
条
科
利
登
(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试
平台
Test
测试
向量
捕获数
描述:
adence Encounter Diaqnostics也从
Sapphire
平台输入错误捕获数据,[第一段]
科
利
登
通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利
登
(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]
科
利
登
与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科
利
登
系统
公司
工程
测试
解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC
测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--
科
利
登
系统
公司,世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
科
利
登
连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
用户满意度调查
供应商
VLSI
ATE
测试
解决方案
自动测试设备
2005年
LSI公司
半导体行业
加工设备
描述:
全球半导体行业从设计到产品的
测试
解决方案厂商——
科
利
登
系统
(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统
公司
诊断
测试
平台
Test
测试
覆盖率
测试
向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从
Sapphire
平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加
测试
覆盖率,提高缺陷定位
速度
。[第一段]
科
利
登
和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了
测试
产能,加快了缺陷定位
速度
,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
科
利
登在IC China
2005
展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试
系统
IC
成本
科
利
登
系统
公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利
登
系统
公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China
2005
展出
Sapphire
家族的最新成员
Sapphire
D-10
系统
芬兰奥托昆普公司计划出售博
利
登
公司4700万股股票
作者:
暂无
来源:
不锈:市场与信息
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芬兰奥托昆普公司
股票
出售
计划
美元
欧元
收入
估计
描述:
芬兰奥托昆普公司表示计划出售瑞典博
利
登
公司(Boliden)约4700万股的股票,估计可收入1.03亿欧元(约1.38亿美元)。
陈景元道藏音注研究——有关声母
系统
的研究
作者:
冯娟
杨超
来源:
西华师范大学学报(哲学社会科学版)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
宋代
反切
声母
中古音
描述:
有许多音注,对其进行研究,可以考察宋代的语音
系统
。
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
下一页
尾页