检索结果相关分组
- 科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 芯片 成本控制 封装测试系统 D—10系统 图形调试
- 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 江苏长电购买多台科利登ASL1000测试系统
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 江苏长电技术有限公司 科利登公司 ASL1000 混合信号测试
- 描述：江苏长电购买多台科利登ASL1000测试系统
- 日月光定购多台科利登的SoC测试系统Octet
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： SoC测试 半导体测试 生产测试 器件 光测 系统性能 测试能力 纳斯达克 股票 量产
- 描述：统性能和测试能力，可以满足下一代器件技术，对测试系统测试容量和范围的要求。
- Micrel购买科利登ASL系统用于混合信号测试
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： Micrel公司 科利登系统公司 混合信号测试 ASL3000 ASL1000
- 描述：Micrel购买科利登ASL系统用于混合信号测试
- 服务测试领域 满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da
- 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 首席执行官 服务测试 客户需求 测试解决方案 全球范围 技术人员 设备制造商 科利登公司 工业设计
- 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 Logic公司 Quick 有限公司 工程验证 FPGA 低功耗 产品
- 描述：科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]