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利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  利登系统公司  模拟  测试应用  数字电视  模数转换    视频  XDSL 
描述:利登系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
整合优势资源 突破技术创新——访利登系统公司总裁兼首席
作者:陆彦  来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  David  首席执行官  技术创新  优势资源  总裁  整合  测试解决方案  测试成本 
描述:并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给利登带来怎样的发展呢?我们就此采访了利登系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  利登系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。
利登连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 用户满意度调查  供应商  VLSI  ATE  测试解决方案  自动测试设备  2005年  LSI公司  半导体行业  加工设备 
描述:全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——利登系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  利登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
全球有超过150套的利登的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
Atmel利用利登的ASL 3000RF^TM无线测试系
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试吞吐量  解决方案  测试效率  测试系统  网络分析技术  模拟信号  系统特点  接收器  市场提供  处理器 
描述:F是利登具有高测试吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC测试系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟