检索结果相关分组
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
- 描述：科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- Zetex半导体购买多台科利登ASL3000系统
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 半导体 购买 科利登系统公司 混合信号 测试成本 器件 拟和
- 描述：科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 汽车工业 综合测试系统 气动踏板 开发应用 AMIS 安全气囊 并行测试 ASIC 精度测试
- 描述：科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率