检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章(279)
报纸(109)
图书(14)
学位论文(9)
会议论文(6)
按栏目分组
历史名人 (404)
地方文献 (6)
地方风物 (2)
非遗保护 (2)
宗教集要 (1)
红色文化 (1)
才乡教育 (1)
按年份分组
2014(39)
2011(28)
2010(21)
2008(17)
2006(40)
2004(43)
2002(5)
1994(7)
1933(1)
按来源分组
其它(26)
牛城晚报(5)
古籍整理研究学刊(3)
商丘日报(2)
抚州师专学报(2)
新理财(1)
学术研究(1)
东华理工学院学报(社会科学版)(1)
船山学刊(1)
新晋商(1)
登与蔚华合并台湾业务,服务客户测试需求
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  台湾地区  合并  服务  登系统公司  业务  需求  客户  股份有限公司  技术整合 
描述:区用户的支持。[第一段]
登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  登系统公司  模拟  测试应用  数字电视  模数转换    视频  XDSL 
描述:登系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
芬兰奥托昆普公司计划出售博登公司4700万股股票
作者:暂无 来源:不锈:市场与信息 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 芬兰奥托昆普公司  股票  出售  计划  美元  欧元  收入  估计 
描述:芬兰奥托昆普公司表示计划出售瑞典博登公司(Boliden)约4700万股的股票,估计可收入1.03亿欧元(约1.38亿美元)。
整合优势资源 突破技术创新——访科登系统公司总裁兼首席
作者:陆彦  来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  David  首席执行官  技术创新  优势资源  总裁  整合  测试解决方案  测试成本 
描述:并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给科登带来怎样的发展呢?我们就此采访了科登系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:登推出注重芯片成本的高量产测试系统
登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  登系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。
登连续三年获得VLSI用户满意度调查ATE供应商排名第一
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 用户满意度调查  供应商  VLSI  ATE  测试解决方案  自动测试设备  2005年  LSI公司  半导体行业  加工设备 
描述:全球半导体行业从设计到产品的测试解决方案厂商——科登系统(纳斯达克挂牌为CMOS)宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高,并且在世界十佳
登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试覆盖率  测试向量 
描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]