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根据【检索词:上海市政府令第一○○五号:兹委任吴溥泉为本市财政局第一科科】搜索到相关结果
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条
科
利登系统公司荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
供应商
质量
混合信号测试
英特尔公司
3月15日
美国加州
测试系统
数字和
服务
产品
市场
描述:
其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
科
利登与蔚华合并台湾业务,服务客户测试需求
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
台湾地区
合并
服务
科
利登系统公司
业务
需求
客户
股份有限公司
技术整合
描述:
区用户的支持。[
第一
段]
科
利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
科
利登系统公司
模拟
测试应用
数字电视
模数转换
音
视频
XDSL
描述:
科
利登系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
整合优势资源 突破技术创新——访
科
利登系统公司总裁兼首席
作者:
陆彦
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
David
首席执行官
技术创新
优势资源
总裁
整合
测试解决方案
测试成本
描述:
并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给
科
利登带来怎样的发展呢?我们就此采访了
科
利登系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
科
利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
芯片
成本控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述:
科
利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
科
利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Kalos
测试解决方案
x系统
推出
He
集成电路测试系统
Personal
科
利登系统公司
非挥发性存储器
存储器件
测试能力
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。
科
利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[
第一
段]
科
利登在IC China
2005
展出注重芯片成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科
利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China
2005
展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
科
利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[
第一
段]
全球有超过150套的
科
利登的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。
科
利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
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