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根据【检索词:监督体制应是一个“相互制衡系统”】搜索到相关结果
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条
吴澄:中国计算机集成制造
系统
的领军人物
作者:
暂无
来源:
中华英才
年份:
2002
文献类型 :
期刊文章
描述:
吴澄:中国计算机集成制造
系统
的领军人物
科利登:增强型SZ Falcon测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试程序开发
测试要求
测试
系统
描述:
科利登:增强型SZ Falcon测试
系统
Zetex半导体购买多台科利登ASL3000
系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科利登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科利登
系统
公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000
系统
用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
《周礼·考工记》车舆词语
系统
(下)
作者:
李亚明
来源:
西华大学学报:哲学社会科学版
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
《考工记》
车舆
交通
词语
系统
关联性
有序性
描述:
搭配关系。《考工记》车舆词语之间具有纵向、上下和横向的结构关联,由此形成词语立体网络,进而体现了事物联系的普遍性。
科利登GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
效和稳固。GlobalScan-I支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。物镜的选择包括用于倒贴片和线绑定封装芯片的两个固体浸润物镜
系统
、用于较难
Raytheon公司选用科利登的IMS Electra
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
逻辑集成电路
验证测试
系统
多芯片模块
系统
公司
性能可靠
系统
测试
商业部
失效分析
测试工程
系统
架构
描述:
科利登
系统
公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运
系统
商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试
系统
。Raytheon 公司一直希望有
一个
功能明确,性能可靠的测试
系统
,能
《周礼·考工记》乐钟词语
系统
作者:
李亚明
来源:
河南广播电视大学学报
年份:
2008
文献类型 :
期刊文章
关键词:
考工记
打击乐器
乐钟
词语关系
描述:
考工记》乐钟词语
系统
的层次性、关联性、有序性三大特征,提出《考工记》乐钟词语之间具有纵向、上下和横向的结构关联,由此形成词语立体网络,进而体现了事物联系的普遍性。
科利登测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科利登Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
《计算机集成制造
系统
—CIMS》期刊首届编委会在北京召开
作者:
暂无
来源:
计算机集成制造系统
年份:
1996
文献类型 :
期刊文章
关键词:
编委会
计算机集成制造
系统
自动化
院士
参加会议
主题
首席科学家
高技术
吴澄
专家组
描述:
会议。国家科委高技术司自动化处赵新力副处长应邀出席了会议。参加会议的还有CIMS主题办公室和CIMS编辑部全体成员。会上,编委会主任委员蒋新松院士、编委会副主任委员吴澄院士分别就CIMS杂志的作用与今后任务以及
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