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首页>根据【检索词:集成电路测试系统】搜索到相关结果33条

春秋官制与《周礼》职官系统比较研究——以《周礼》成书年代的: 作者：李晶 年份：2004 文献类型：学位论文 关键词： 《周礼》成书年代春秋职官制度; 描述：善齐备的职官系统，故从职官研究入手，应是最切合实际、最直接之作法。《周礼》书中保存了许多宝贵的上古职官制度的史料，该书作者采用的职官资料应该主要是依据其生活时代的职官系统，加上前代流传下来的史料，再

强强联手蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行: 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司人物访谈电子行业半导体市场测试设备; 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。

科利登（Cre dence）：访科利登系统（上海）有限公司: 作者：丁力 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司陈绪人物访谈发展战略中国市场测试设备; 描述：2004年3月17～19日，SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行，来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。

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