检索结果相关分组
登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科登Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科登在SEMICON China展会上
服务测试领域 满足客户需求:访科登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  登公司  工业设计 
描述:登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
第四届科登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:2006年度VLSI Research客户满意度调查中,科登公司再次取得了很好的排名。科登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了科登公司的产品、客户服务和支持的独到之处
澳娛指滿威登廣告不適當
作者:暂无 来源:香港文汇报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:澳娛指,滿威基金會的聲明指澳門終審法院已對重造澳娛股東名冊一案作出最終判決,裁定澳娛敗訴;但事實是何婉琪作為澳娛股東及訴訟之一方,對訴訟程序提出反對,並向法院提出反訴,要求法院在重造澳娛股東名冊