检索结果相关分组
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登完备失效分析实验室落户威盛
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 分析实验室 失效 完备 设计公司 科利登公司 台湾地区 特征分析 生产线 购买
- 描述：科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- 科利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 培训中心 工业大学 合作 北方 2004年6月 科利登系统公司 工程 测试解决方案 半导体工业 半导体产品 SOC测试 特性分析 混合信号 供应商
- 描述：2004年6月14日，美围加州MILPITAS--科利登系统公司，世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商，今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
- 矽格定购科利登Sapphire测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 矽格微电子公司 Sapphire测试系统 科利登系统有限公司 SoC器件 定购
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布：矽格微电子公司，已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户，矽格直接经历了SoC器件的需求增长，这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
- Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案 无线器件 测试成本 分支机构 团队 工程开发
- 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
- 矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：测试与封装外包市场的增长。