检索结果相关分组
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- Credence科利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
- 作者：乔治 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体公司 成本效益 Credence 小型化 集成化
- 描述：作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
- 科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
- 描述：科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- Tripath技术公司购买科利登(Credence)的混合
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试设备 技术公司 混合信号 领先者 解决方案 生产测试 半导体工业 系统公司 购买 设计
- 描述：作为一个为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先者,科利登系统公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术