检索结果相关分组
- 科利登新设工程培训中心，继续得到用户认可
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 培训中心 科利登系统公司 工程 认可 用户 自动测试仪器 半导体产品 SOC测试 首席执行官 工业大学 特性分析 混合信号 产业市场 测试设备 实践经验 中国 总裁
- 描述：中国的支持力度。非常荣幸能向这所顶尖大学提供测试设备，让学生获得自动测试仪器领域的实践经验。”
- 科利登（Credence）和Cadence合作验证加快良率
- 作者：暂无 来源：半导体行业 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试向量 捕获数
- 描述：adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据，[第一段]
- 科利登通过战略性收购扩充核心市场
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 市场 扩充 收购 公司 总经理 亚洲区 总裁
- 描述：科利登（Credence）公司日前在上海举办媒体答谢会，亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000～2004年公司的发展状况。[第一段]
- 科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司 微控制器 混合信号 显示驱动 e系列 多功能 消费类 封装
- 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登完备失效分析实验室落户威盛
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 分析实验室 失效 完备 设计公司 科利登公司 台湾地区 特征分析 生产线 购买
- 描述：科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- 科利登与蔚华合并台湾业务，服务客户测试需求
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 台湾地区 合并 服务 科利登系统公司 业务 需求 客户 股份有限公司 技术整合
- 描述：区用户的支持。[第一段]