检索结果相关分组
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
- 作者：暂无 来源：电子资讯时报 年份：2007 文献类型 ：报纸
- 描述：【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感，并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前，德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL－ CON GLX系统，以达成具高可扩展性、 成本优势
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
- 描述：科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- Zetex半导体购买多台科利登ASL3000系统
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 半导体 购买 科利登系统公司 混合信号 测试成本 器件 拟和
- 描述：科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 逻辑集成电路 验证测试系统 多芯片模块 系统公司 性能可靠 系统测试 商业部 失效分析 测试工程 系统架构
- 描述：科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能