检索结果相关分组
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 汽车工业 综合测试系统 气动踏板 开发应用 AMIS 安全气囊 并行测试 ASIC 精度测试
- 描述：科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- ELMOS签署了购买多台科利登Piranha系统协议
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 签署 购买 产品线 合作伙伴 科利登公司 需求 协议 ha系统 器件 平台
- 描述：科利登公司日前宣布，ELMOS半导体签署了购买多台科利登Piranha系统的协议。作为科利登的长期合作伙伴，ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测