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利登通过战略性收购扩充核心市场
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 市场  扩充  收购  公司  总经理  亚洲区  总裁 
描述:利登(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  利登系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Atmel利用利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用利登无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
利登完备失效分析实验室落户威盛
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  分析实验室  失效  完备  设计公司  利登公司  台湾地区  特征分析  生产线  购买 
描述:利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]
利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  工业大学  合作  北方  2004年6月  利登系统公司  工程  测试解决方案  半导体工业  半导体产品  SOC测试  特性分析  混合信号  供应商 
描述:2004年6月14日,美围加州MILPITAS--利登系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
矽格定购利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
Atmel利用利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。