检索结果相关分组
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- Credence科利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
- 作者：乔治 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体公司 成本效益 Credence 小型化 集成化
- 描述：作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
- 科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
- 描述：科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]