检索结果相关分组
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度
- 硬的软起动器 起动和平发展——记中国·和平电气有限公司董
- 作者：李世红 来源：电器工业 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 软起动器 董事长 公司 有限 电气 中国 满负荷运行 水锤效应
- 描述：硬的软起动器 起动和平发展——记中国·和平电气有限公司董
- 《中国涛金潮》台湾晴易文坊媒体行销有限公司发行
- 作者：暂无 来源：中国经济问题 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：《中国涛金潮》台湾晴易文坊媒体行销有限公司发行