检索结果相关分组
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- 科利登完备失效分析实验室落户威盛
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 分析实验室 失效 完备 设计公司 科利登公司 台湾地区 特征分析 生产线 购买
- 描述：科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]
- Micrel购买多台科利登ASL 3000和ASL 100
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 Micrel公司 科利登ASL3000 ASL1000系统
- 描述：Micrel购买多台科利登ASL 3000和ASL 100
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- 科利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 培训中心 工业大学 合作 北方 2004年6月 科利登系统公司 工程 测试解决方案 半导体工业 半导体产品 SOC测试 特性分析 混合信号 供应商
- 描述：2004年6月14日，美围加州MILPITAS--科利登系统公司，世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商，今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
- 科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： MediaTek公司 Sapphire NP系统 测试系统 测试容量 DVD市场
- 描述：在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
- Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos通讯公司 Octet测试系统 数字信号处理
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet测试系统