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科利(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量  捕获数 
描述:adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科利通过战略性收购扩充核心市场
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 市场  扩充  收购  公司  总经理  亚洲区  总裁 
描述:科利(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
科利推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  科利系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:科利系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
ELMOS签署了购买多台科利Piranha系统协议
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 签署  购买  产品线  合作伙伴  科利公司  需求  协议  ha系统  器件  平台 
描述:科利公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台科利Piranha系统的协议。作为科利的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
Raytheon公司选用科利的IMS Electm系统测
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用科利的IMS Electm系统测
DA测试公司应用科利Quartet One来提高测试能力
作者:暂无 来源:无线电工程 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利系统公司  DA测试公司  QuartetOne  SoC芯片  测试能力 
描述:DA测试公司应用科利Quartet One来提高测试能力
Atmel利用科利的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:科利系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科利无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:科利公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科利新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  步进扫描  图像叠加  掩模  系统定位  集成电路  量产时间  问题  产品  加工成本 
描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。