检索结果相关分组
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- 科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 市场要闻：科利登（credence）系统公司（北京、上海）
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：2004年6月15、18日科利登(credence)系统公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。
- 科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 中国市场 测试成本 量产时间 解决方案 ASL 3000RF
- 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos公司 Octet 数字信号处理 并行测试
- 描述：Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
- 强强联手 蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行
- 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 人物访谈 电子行业 半导体市场 测试设备
- 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。