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器件
半导体
吞吐量
测试
存储器
Octet系统
增强型
半导体业
Sapphire
可配置
Octet测试系统
图象质量
Raytheon公司
存储器件
科利登公司
systems公司
器件测试
半导体工业
半导体行业
分支机构
团队
Vanguard测试系统
SoC器件
半导体材料
发展
多媒体
供应商
威盛电子股份有限公司
加工成本
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根据【检索词:ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子半导体器件】搜索到相关结果
745
条
科
利
登
推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储
器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统
Kalos 2和工程
测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。
科
利
登
的Sapphire S
测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利
登
Sapphire S
测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号
测试
测试
系统
电子器件
测试
设备
提高成品率
器件
测试
电子
芯片
测试
成本
集成电路
测试
要求
描述:
科
利
登
(Credence)公司混合信号
测试
系统
科
利
登
系统
荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
测试
解决方案
测量
系统
半导体
工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界
半导体
工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商——
科
利
登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
通过购买多台
科
利
登
的ASL1000
测试
系统
Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体
行业
Components公司
世界
有限公司
测试
成本
混合信号
测试
解决方案
描述:
ECCI是业界领先的
测试
方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号
器件
提供参数及功能
测试
的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM
测试
温度传感器,
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线
器件
Atmel采用
科
利
登
无线
测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线
器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利
登
公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线
器件
和应用的射频芯片较低
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard
测试
系统
科
利
登
公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利
登
IMS Vanguard
测试
系统
矽格定购
科
利
登
Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子公司
Sapphire
测试
系统
科
利
登
系统
有限公司
SoC
器件
定购
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire
测试
系统
。作为
科
利
登
近10年的客户,矽格直接经历了SoC
器件
的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC
测试
与封装外包市场
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