检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(1917)
报纸
(764)
学位论文
(31)
图书
(31)
会议论文
(17)
按栏目分组
历史名人
(2683)
地方文献
(37)
宗教集要
(19)
才乡教育
(7)
地方风物
(6)
红色文化
(4)
文化溯源
(3)
非遗保护
(1)
按年份分组
2012
(213)
2011
(248)
2008
(148)
2007
(141)
2006
(143)
2004
(126)
2003
(80)
1986
(24)
1980
(13)
1974
(13)
按来源分组
农家顾问
(4)
春秋
(4)
戏剧之家
(3)
古典文献研究
(3)
小学语文教学:人物
(1)
山野
(1)
金融队伍建设
(1)
中学教学参考
(1)
沈阳出版社
(1)
长江论坛
(1)
相关搜索词
黄鹤
天鹅
《又是一年》
华中农业大学
乡愁
同上
《牡丹亭》
《游褒禅山记》
孔武仲
唐朝
皇帝
做学问
注释
启功
周礼
“过”
关云长
中国历史
士大夫
创作方法
诗词
刘辰翁
初中语文教材
古代
云海
保健养生
《泊船瓜洲》
古人
黄州诗词
首页
>
根据【检索词:鲍照《登黄鹤矶》诗(注释)】搜索到相关结果
143
条
科利
登
获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科利
登
系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科利
登
Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利
登
系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用科利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科利
登
系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从科利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
放飞“
黄鹤
”
作者:
周中良
来源:
中国质量报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
我国四大名楼之一的黄鹤楼,就坐落于武汉长江之滨。自1985年对外开放以来,吸引着国内外慕名而来的游客前来游览。如今武汉人又将
黄鹤
、黄鹤楼作为一个品牌,应用于市场经济中创造了不菲的业绩。 $$在湖北
千古
黄鹤
在
作者:
李国文
来源:
长江文艺
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
《黄鹤楼》
描述:
文人手中的那支笔,能起到这大作用而感到骄傲。说实在的,在中国历史上的文人,地位很不高,“九儒十丐”,与讨饭花子名列排行
科利
登
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利
登
(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届科利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利
登
系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科利
登
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
7
下一页
尾页