检索结果相关分组
- 科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司 测试选件
- 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
- 科利登任命行业翘楚为新任董事会执行主席
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 董事会 主席 House 行业 英特尔公司 有限公司 经理
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布：在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为科利登董事会的执行主席，2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
- 澳娛指滿威利登廣告不適當
- 作者：暂无 来源：香港文汇报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：之訴訟程序中，一併審理其聲稱於1983年將澳娛股份轉讓予滿威利公司(MVI)之證據。澳門終審法院接納其上
- 第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 西安 并行测试 技术研讨会 解决方案 同期 封装测试 现场 展示 混合信号 设计
- 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨 西安 测试解决方案 生产测试 供应商
- 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
- 科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试实验室 测试系统 欧洲 混合信号 多媒体 高电压 芯片 视频
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音，视频数字和混合
- 科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 芯片测试 高速 端对端 成本优势 测试选件 通道数量 参数分析 总线测试 IP技术
- 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
- 科利登端对端6．4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高速总线 端对端 成本优势 测试选件 产品系列 有限公司 芯片测试 成本优化 验证分析
- 描述：。[第一段]
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]