检索结果相关分组
- 相山矿田居隆庵铀矿床成矿物理化学条件分析
- 作者：吴柏林 周鲁民 来源：西北大学学报(自然科学版) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 相山矿田 相山矿田 成矿物理化学条件 成矿物理化学条件 成矿热液 成矿热液 包裹体 包裹体 同位素 同位素
- 描述：热液物理化学性质为弱酸、弱还原性的中低温热液,成岩成矿物质既来源于深部(上地幔),又有浅部物质的混合。
- 龙山金锑矿NNE向矿脉力学性质及找矿前景分析
- 作者：李福顺 刘树生 来源：国土资源导刊（湖南） 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： NNE向断裂 NNW向含矿断裂 扭张性 金锑矿 龙山
- 描述：厚度增大，金锑品位变富。NNE向构造与NNW向含矿断裂构造一样，具有较大的找矿潜力，从而拓宽了以往仅局限于NWW向含矿构造带找矿空间，为矿山今后找矿提供了思路。[著者文摘]
- 从语言内部补偿看入声舒化现象
- 作者：国术平 来源：语文学刊 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 入声舒化 自我补偿
- 描述：入声与舒声相对,以发音短促及塞音韵尾来别义的。在发展过程中入声逐渐消失,原入声字为了继续发挥作用,在入声消失的同时采取了内部补偿以达到语音系统的平衡。语言在不同地区发展的速度不同,入声舒化的速度
- 大同方言“舒声促化”与轻声音节的关系
- 作者：孙玉卿 王茂林 来源：山西大学学报(哲学社会科学版) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 大同方言 入声舒化 舒声促化 轻声音节
- 描述：文章对大同方言中存在的舒入两读字进行了分类,并对这些舒声字读为入声后其韵母的音色变化进行了分析。这些字的共同特点是音长变短,一部分入声字的喉塞音韵尾【】逐渐消失,与普通话的轻声音节一致,另一部分字还将继续保留喉塞音韵尾【】的特点。
- 大姚铜矿白垩系马头山组砂岩类的地球化学特征及成岩成矿背景分析
- 作者：甘凤伟 方维萱 王训练 年份：2006 文献类型 ：会议论文 关键词： 砂岩铜矿 成岩成矿 地球化学 构造地质 地球化学相 大姚铜矿
- 描述：分析大姚铜矿砂岩类的常量元素,反映其成岩成矿的构造背景,砂岩铜矿中碎屑岩的常量元素特征主要受物源区控制.大姚砂岩铜矿成矿受氧化-还原环境控制,分析大姚六苴矿床岩石和矿石样品的Fe2+/Fe3+值与铜
- 淮北相山三种群落中优势树种次生木质部的解剖学特征
- 作者：史刚荣 刘蕾 来源：云南植物研究 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 剥蚀残丘 剥蚀残丘 优势树种 优势树种 次生木质部 次生木质部 解剖学特征 解剖学特征 表型可塑性 表型可塑性
- 描述：牡荆扁担木酸枣小叶鼠李柘树,植物水分输导的有效性和安全性与其在相山的自然分布相一致。作为广布优势树种,牡荆、酸枣和扁担木的次生木质部在导管分子长度、单孔率、导管频率、相对输导率、脆性指数、多列射线高度、多列射线宽度和单列射线高度等性状上均表现出一定的可塑性。与混交林和人工侧柏林相比,灌丛中植物导管分子短,单孔率低,导管频率大,射线低,相对输导率大,脆性指数小,更倾向于旱生特点。逐步多重回归分析表明,随着郁闭度的增加,导管分子长度和单孔率增加。随着风速的增加,导管频率增加。随着土壤含水量的增加,多列射线变宽。
- 大姚铜矿白垩系马头山组砂岩类的地球化学特征及成岩成矿背景分析
- 作者：甘凤伟 方维萱 王训练 韩润生 来源：矿产与地质 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 砂岩铜矿 成岩成矿 地球化学特征 常量元素 构造背景 地球化学相 大姚 云南
- 描述：分析大姚铜矿砂岩类的常量元素,反映其成岩成矿的构造背景,砂岩铜矿中碎屑岩的常量元素特征主要受物源区控制.大姚砂岩铜矿成矿受氧化-还原环境控制,分析大姚六苴矿床岩石和矿石样品的Fe2+/Fe3+值与铜
- 中国新疆罗布泊盐湖断裂构造特征、形成机制及成钾意义
- 作者：刘成林 王弭力 焦鹏程 李树德 陈永志 来源：地质学报 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 罗布泊盐湖 断裂构造特征 罗布泊凹陷 中国新疆 形成机制 凹地 张性断裂 富钾卤水 塔里木盆地东部 罗北
- 描述：中国新疆罗布泊盐湖断裂构造特征、形成机制及成钾意义
- 香港科技园运用科利登的工具完善其诊断和特征分析能力
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 特征分析 科技园 分析能力 诊断 香港 Systems 工具 有限公司 CMOS 工程验证
- 描述：科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation,纳斯达克代码：CMOS）宣布：香港科技园（HKSTP）在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
- 香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。[第一段]