检索结果相关分组
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- Micrel购买多台科利登ASL 3000和ASL 100
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 Micrel公司 科利登ASL3000 ASL1000系统
- 描述：Micrel购买多台科利登ASL 3000和ASL 100
- 科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： MediaTek公司 Sapphire NP系统 测试系统 测试容量 DVD市场
- 描述：在MediaTek推动下多台科利登Sapphire NP系
- Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos通讯公司 Octet测试系统 数字信号处理
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 测试成本 竞争优势 商业战略
- 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： DMEA工程实验室 IMS Vanguard测试系统 科利登公司 微处理器
- 描述：DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
- 市场要闻：科利登（credence）系统公司（北京、上海）
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：2004年6月15、18日科利登(credence)系统公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。