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服务测试领域满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da: 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司首席执行官服务测试客户需求测试解决方案全球范围技术人员设备制造商科利登公司工业设计; 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]

科利登具有6．4G速度测试能力的Sapphire S测试系统: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型：期刊文章; 描述：自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一

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