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利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
博大关怀 深耕不息——访尼起重机设备(上海)有限公司总
作者:暂无 来源:现代制造 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 上海市场  有限公司  总经理  起重机  设备  深耕  物流行业  销售  品牌 
描述:何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在尼超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉上海市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“尼”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
为不断降低测试成本而创新——访利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访利登公司中国区总经理陈绪先生
香港科技园运用利登的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 特征分析  科技园  分析能力  诊断  香港  Systems  工具  有限公司  CMOS  工程验证 
描述:利登系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
利登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
利登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台利登Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。利登在SEMICON China展会上
服务测试领域 满足客户需求:访利登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  利登公司  工业设计 
描述:利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]