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日月光定购多台利登的SoC测试系统Octet
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: SoC测试  半导体测试  生产测试  器件  光测  系统性能  测试能力  纳斯达克  股票  量产 
描述:统性能和测试能力,可以满足下一代器件技术,对测试系统测试容量和范围的要求。
利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:利登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费