检索结果相关分组
- 威盛电子选用科利登解决方案
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 设计公司 分析实验室 台湾地区 特征分析 Inc 生产线 购买
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc．)成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 西安 并行测试 技术研讨会 解决方案 同期 封装测试 现场 展示 混合信号 设计
- 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨 西安 测试解决方案 生产测试 供应商
- 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 芯片测试 高速 端对端 成本优势 测试选件 通道数量 参数分析 总线测试 IP技术
- 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]