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博大关怀 深耕不息——访尼起重机设备(上海)有限公司
作者:暂无 来源:现代制造 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 上海市场  有限公司  总经理  起重机  设备  深耕  物流行业  销售  品牌 
描述:何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在尼超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉上海市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“尼”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
第四届年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
ATE巨头掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
第四届系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨  西安  测试解决方案  生产测试  供应商 
描述:从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届系列测试技术研讨年会”。[第一段]
为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访公司中国区总经理陈绪先生
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]