检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(307)
报纸
(126)
会议论文
(3)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(393)
地方文献
(19)
地方风物
(9)
宗教集要
(8)
红色文化
(5)
非遗保护
(2)
才乡教育
(1)
按年份分组
2014
(47)
2013
(11)
2012
(26)
2010
(18)
2007
(20)
2006
(40)
2005
(54)
2004
(45)
2003
(27)
1991
(4)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
电子与封装
(11)
今日电子
(5)
国外电子测量技术
(5)
电子设计应用
(2)
电子质量
(1)
电子测试
(1)
电子经理世界
(1)
上海商报
(1)
相关搜索词
半导体生产
测试
半导体行业
器件
半导体材料
存储器件
半导体工业
威盛电子股份有限公司
发展策略
博士
团队
Sapphire
企业重组
分支机构
发展
SIG
发展战略
科利登公司
半导体设备
可测性设计
失效分析
半导体公司
增强型
Sun公司
Personal
失效模式
存储器
可配置
半导体业
首页
>
根据【检索词:科利登子公司】搜索到相关结果
437
条
科
利
登
SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──
科
利
登
(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届
科
利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登
系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
IC测试供应巨头
科
利
登
落户申城
作者:
李冰心
来源:
上海经济报
年份:
2004
文献类型 :
报纸
描述:
全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业
科
利
登
(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。
科
利
登
总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
科
利
登
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──
科
利
登
系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为
科
利
登
董事 会
ELMOS选择
科
利
登
FALCON系统测试汽车电子器件
作者:
暂无
来源:
电子资讯时报
年份:
2007
文献类型 :
报纸
描述:
【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用
科
利
登
FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
作者:
暂无
来源:
电脑商报
年份:
2014
文献类型 :
报纸
描述:
威盛电子采用
科
利
登
实验室解决方案
科
利
登
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
7
下一页
尾页