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SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届年度技术研讨会西安召开
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
IC测试供应巨头落户申城
作者:李冰心  来源:上海经济报 年份:2004 文献类型 :报纸
描述:全球自动测试仪器(ATE)制造业领 军企业(Credence)公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。总部位 于美国加州,从1978年成立至今,公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
任命Dave House为董事会新执行主席
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2005 文献类型 :报纸
描述:[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为董事 会
ELMOS选择FALCON系统测试汽车电子器件
作者:暂无 来源:电子资讯时报 年份:2007 文献类型 :报纸
描述:【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势
威盛电子采用实验室解决方案
作者:暂无 来源:电脑商报 年份:2014 文献类型 :报纸
描述:威盛电子采用实验室解决方案
的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——投资人更新
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 高数据速率  测试解决方案  系统公司  半导体器件  高速串行总线  可测性设计  微处理器  环路测试 
描述:的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器