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测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
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Sapphire
SoC器件
Octet系统
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根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
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条
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire
D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台
Sapphire
^TM WD-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统
来
测试
多媒体音/视频数字
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析
能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析
能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪
系统
的基础
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其诊断和特征分析
能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
市场运行应是国民体质
测试
的方向
作者:
陈凌
年份:
2006
文献类型 :
会议论文
描述:
为“公共服务事业”,充分说明中国政府“以人为本”的
威盛电子选用
科
利
登
解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
低成本和高性能促成DEI购买
科
利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试
系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL
测试
系统
。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统
有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
第四届
科
利
登
年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科
利
登
系统
公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利
登
系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE
测试
的各种主题,如IC
测试
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行
测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装
测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试
解决方案
生产
测试
供应商
描述:
从设计到生产
测试
的全过程
测试
解决方案供应商——
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列
测试
技术研讨年会”。[第一段]
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