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测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
Raytheon公司
Sapphire
SoC器件
Octet系统
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根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
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条
新型
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试
解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
ELMOS签署了购买多台
科
利
登
Piranha
系统
协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利
登
公司
需求
协议
ha
系统
器件
平台
描述:
科
利
登
公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台
科
利
登
Piranha
系统
的协议。作为
科
利
登
的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该
系统
能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线
测试
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统
定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
科
利
登
系统
公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
公司2004年第二季度财务报告
市场要闻:
科
利
登
(credence)
系统
公司(北京、上海)
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
2004年6月15、18日
科
利
登
(credence)
系统
公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC
测试
专家、学者及国内晶圆代工厂、封装
测试
企业的相关工程师出席了本次会议。
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
IKanos公司
科
利
登
系统
公司
Octet
系统
宽带数字信号处理器
并行
测试
描述:
IKanos选择
科
利
登
的Octet
系统
用于宽带数字信号处理
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
VLSI公司
用户满意度
自动测试设备
描述:
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
在MediaTek推动下多台
科
利
登
Sapphire
NP系
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
MediaTek公司
Sapphire
NP
系统
测试
系统
测试
容量
DVD市场
描述:
在MediaTek推动下多台
科
利
登
Sapphire
NP系
强强联手 蓄势冲击——访
科
利
登
系统
公司全球总裁兼首席执行
作者:
邬小梅
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
人物访谈
电子行业
半导体市场
测试
设备
描述:
dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
科
利
登
打造业界领导者新形象
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
特征分析
生产
测试
市场
发展策略
描述:
设备领域业界领导者的新形象。
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