检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(385)
报纸
(215)
会议论文
(3)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(552)
地方文献
(21)
地方风物
(13)
宗教集要
(9)
红色文化
(5)
非遗保护
(3)
才乡教育
(1)
按年份分组
2007
(26)
2006
(42)
2005
(55)
2004
(47)
2003
(31)
2001
(7)
1991
(4)
1989
(4)
1988
(3)
1987
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
电子与电脑
(17)
半导体技术
(16)
集成电路应用
(12)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子元器件应用
(6)
电子产品世界
(6)
无线电工程
(1)
相关搜索词
半导体工业
公司
半导体生产
发展
器件
科利登公司
失效分析
Kalos
器件测试
Raytheon公司
SoC芯片
半导体市场
供应商
优势资源
半导体产业
图形接口
创新
半导体行业
全球范围
测试
半导体材料
存储器件
威盛电子股份有限公司
发展策略
博士
团队
Sapphire
企业重组
分支机构
首页
>
根据【检索词:科利登公司】搜索到相关结果
42
条
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试解决方案
生产测试
供应商
描述:
从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列测试技术研讨年会”。[第一段]
科
利
登
sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科
利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登
新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
科
利
登
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台
科
利
登
Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨会
西安
中国
年会
IC测试
RFID芯片
描述:
对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自
科
利
登
的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的
科
利
登
最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页