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测试
Sapphire
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Raytheon公司
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根据【检索词:科利登:成就测试帝国】搜索到相关结果
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条
QuickLogic选用
科
利
登
Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10
测试
系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品
测试
系统。[第一段]
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统来
测试
多媒体音/视频数字
低成本和高性能促成DEI购买
科
利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试
系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL
测试
系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登
新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试
设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产
测试
设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
个性决定
成就
作者:
王利凯
来源:
希望月报
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
性决定
梅花
成就
开放
个性
咏梅
王安石
毛泽东
温暖湿润
进化论
描述:
“墙角数枝梅,临寒独自开”这是诗人王安石对梅花的赞赏。是的,在那寒冷飘雪的冬天,只有梅花依然开放,我想这就是千千万万个诗人对它赞赏的原因吧。我同样赞赏梅花。我不是诗人,不能用诗句去赞美它;我不是画家,不能用那精美的画章去表现它;我只能用自己贪乏的语言去描述它。
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
西安
并行
测试
技术研讨会
解决方案
同期
封装
测试
现场
展示
混合信号
设计
描述:
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试
解决方案
生产
测试
供应商
描述:
从设计到生产
测试
的全过程
测试
解决方案供应商——
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列
测试
技术研讨年会”。[第一段]
香港科技园运用
科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登
端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高速总线
端对端
成本优势
测试选件
产品系列
有限公司
芯片
测试
成本优化
验证分析
描述:
。[第一段]
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